先進的激光阻隔時間分析技術（LOT）配合專業圖像分析技術，可快速準確地進行從納米到微米的粒度、粒形分析：

      - 監測動力學過程

      - 通過記錄大小vs形狀繪制多維數據

      - 分析復雜數據以反應分布中的次要分布

      - 通過從數據庫中調用記錄圖片來識別分布中的單個粒子

      - 生成標準體積和數量分布結果

      - 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術，準確描述非球形材料

      - 測量結果與顆粒或介質的物理光學特性無關