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90Plus PALS高靈敏Zeta電位及粒度分析儀粒度測量采用動態光散射原理,是一種準確、快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。Zeta電位測量采用硬件PALS技術測量Zeta電位,與傳統基于頻移技術的光散射方法相比,靈敏度可提高約1000倍,可適用于諸如低介電常數、 高粘度、 高鹽度以及等電點附近這些測量條件下的樣品測量。
90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是一款能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術,靈敏度高約1000倍!
PALS技術(PALS:Phase Analysis Light Scattering)是由布魯克海文儀器公司開發的一項Zeta電位測量技術,與傳統基于頻移技術的光散射方法相比,靈敏度可提高約1000倍。許多從事新材料、生命科學、環境工程等新興學科的研究人員長期以來苦于無法對諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下的樣品進行分析,這就是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統方法沒有足夠的靈敏度進行測量,ZetaPALS的出現為他們提供了準確可信的測量技術。
簡單的計算即可說明硬件PALS技術的優越性:
納米粒度測量部分使用動態光散射技術(Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動,使得光強隨時間產生脈動。采用數字相關器(digital correlator)
技術處理脈沖信號,將光強的波動轉化為相關函數。自相關函數包含了懸浮顆粒或者溶液中高分子的擴散速度信息,進而利用Stokes-Einstein方程計算得出粒子的擴散系數和粒子粒徑Rh及其分布:
90Plus Zeta電位及粒度分析儀
90Plus PALS高靈敏Zeta電位及粒度分析儀
ZetaPALS Zeta電位分析儀
1.高靈敏性,粒度測量范圍:0.3nm~15μm;
2.硬件PALS技術,靈敏度高約1000倍,適用于高鹽濃度、有機溶劑、油相體系;
3.可作為在線檢測器與GPC/SEC連接,并通過SLS、DLS、光強和粒徑監測聚集過程;
4.綜合多種粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測量軟件;
5.強大的數據分析功能,可自動研究粒度隨時間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數變化的趨勢分析.
1. 脂質體、生物膠體
2. 陶瓷 3. 顏料、油墨
4. 醫藥
5. 乳劑(食品、化妝品)
6. 廢水處理
7. 膠乳
8. 炭黑
應用案例
不同粒徑對Zeta電位等電點的影響 不同官能團配比對等電點的影響 Zeta電位值與細胞吸收度的關系
通過調整顆粒的粒徑或正負電荷官能團的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細胞吸收度有著重大影響。(數據摘自JACS)
90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀技術指標
項目
90Plus PALS
功能
測量的參數
粒度、分子量、A2
Zeta電位、電泳遷移率
粒度
及分
子量
工作原理
經典動態光散射
粒度范圍
0.3nm-15μm
散射角
15°和90°
測量精度
1%
絕對靈敏度
>300 Kcps(甲苯)
濃度范圍
0.1ppm至40%w/v*
最小樣品量
10μL
分子量范圍
342~2×107Dalton
數字相關器
4×1011個線性通道,可拓展互相關測量
分析算法
NNLS、CONTIN、Lognormal、蛋白質與聚合物分析模型
Zeta
電位
硬件PALS技術
適用粒度范圍
1nm~100μm
電導率范圍
0-30S/m
電泳遷移率范圍
10-11~10-7m2/V.s
電極
耐腐蝕電極
系 統 參 數
激光源
40mW光泵半導體激光器(激光器可選)
檢測器
高量子效應雪崩型二極管(APD)
溫度控制
-5~110℃,±0.1℃(溫控范圍可根據客戶要求定制)
冷凝控制
干燥空氣
分析軟件
Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
大小及重量
233mm (H) x 427 mm (W) x 481mm (D),15 kg
*以樣品為準
選件
微流變
檢測弱結構溶液的粘彈性信息
表面膜電位
固體表面膜電位測量
實時在線測量
粒度及Zeta電位實時在線測量
自動滴定儀
可對PH值、電導率和添加劑濃度作圖
介電常數儀
直接測量溶劑的介電常數值
粘度計
用于測量溶劑及溶液的粘度
21CFR軟件
符合FDA要求的21CFR part 11操作軟件和儀器材料
010-51627740